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WIM300缺陷检测设备
WIM300
2023-09-02
阅读量: 2276
支持SECS/GEMSEMI标准,适配工厂自动化需求;支持有图形/无图形晶圆检测需求支持脏污、划伤、短路、断路等等多种缺陷检测覆盖从衬底生产、集成电路制造、封装等多场景缺陷检测需求