WLP-G300几何尺寸检测系统
WLP-G300
2023-08-29
阅读量： 1846支持SECS/GEMSEMI标准，适配工厂自动化需求;支持集成膜厚测量，形貌测量，多层厚度测量模块等。支持量测任务自动下发，结果上报，数据回溯等功能。多维度量测结果可视化展示，直观呈现工艺偏差；配备离线分析、批量任务导入，大幅降低生产成本
电话：176 2137 2945 宋经理
地址：宁波市余姚市缪云线千人计划产业园1号楼
上海市闵行区浦江科技广场21号楼B202
邮箱：