TWS300P形貌量测设备
TWS-300P
2023-08-30
阅读量: 3594
WAFER TOPOGRAPHY MEASUREMENT SYSTEM
系统介绍

TWS300P 晶圆形貌量测系统。设备配备高精度电容传感器和智能算法,精确测量晶圆的厚度、翘曲度(WARP)、弓曲度(BOW)及厚度变化(TTV/LTV),可集成魔镜、电阻率、P/N 等测量功能。

测量参数

THKWARPBOWTTV/LTV

行业应用

磷化铟SiC蓝宝石玻璃氧化镓砷化镓

自动化能力

● 支持 SECS/GEM SEMI 标准,适配工厂自动化需求
● 支持全流程自动化,测量结果实时上报,数据回溯
● 面型可视化,直观显示工艺偏差,快速定位问题
● 支持离线分析,任务导入,提升机台利用率,降低生产成本